Yakuphanoğlu, Fırat Teknokent’te kurduğu Fytronix Yüksek Teknoloji şirketinde yaptığı çalışmalarla dikkatleri üzerine çekerken, geliştirdiği teknolojik ürünler birçok ülkeye ihraç ediliyor. Son olarak, yeni geliştirdiği metotla diyotların akım-voltaj ve kapasite-voltaj ölçümleri üzerinden cihazların seri direnç, engel yüksekliği, fototepki ve arayüz durum yoğunluğu gibi bağımlı parametrelerini doğru bir şekilde hesaplamayı başardı.

Yeni Metot, Mevcut Yöntemlere Göre Daha Tutarlı Sonuçlar Veriyor

Prof. Dr. Yakuphanoğlu, mevcut kapasite-voltaj ölçüm yöntemlerinin yetersiz sonuçlar verdiğini ve bunun, bilimsel çalışmalarda büyük zorluklara neden olduğunu belirterek, geliştirdikleri metot sayesinde elde edilen verilerin daha tutarlı ve teorik değerlere yakın olduğunu ifade etti. "Yeni metot, mevcut yöntemlerle uyumsuz olan verileri birleştirerek daha kesin ve güvenilir sonuçlar sunmaktadır. Uluslararası literatürde yayımlandıktan sonra, farklı bilim insanları tarafından kullanılan bu metot, elektronik ve nano teknoloji cihazlarının performansını doğru bir şekilde ölçmemizi sağlıyor" dedi.

TurkNet'ten açıklama: 2.8 Milyon Kullanıcının Verileri Çalındı mı? TurkNet'ten açıklama: 2.8 Milyon Kullanıcının Verileri Çalındı mı?

Teknolojik Cihazlar Üzerinde Önemli Bir Etki Yapacak

Yakuphanoğlu’nun geliştirdiği bu yeni metodun, elektronik, nano ve fotonik teknoloji ile üretilen cihazların performansını doğru bir şekilde analiz etmede önemli bir rol oynayacağı ve günlük hayatta kullanılan teknolojik cihazların üretim süreçlerinde de verimliliği artıracağı vurgulandı. Prof. Dr. Yakuphanoğlu, yeni metodun, cihazların üretiminde daha verimli sonuçlar alınmasına olanak tanıyacağını ve daha doğru performans değerlendirmeleri yapılabileceğini belirtti.

Bu başarılı çalışmayla ilgili bilimsel araştırmalar yapıldıkça, Yakuphanoğlu’nun geliştirdiği metodun dünya çapında daha fazla bilim insanı tarafından kullanılmaya başlandığı ifade edilmekte. Bu sayede, teknolojik cihazların üretim süreçlerine önemli katkılar sağlanması bekleniyor.